分布光度計(jì)的影響因素及校準(zhǔn)方法

分布光度計(jì)的影響因素及校準(zhǔn)方法

對(duì)分布光度計(jì)的校準(zhǔn)，也有采用其他替代校準(zhǔn)方法，如照度法和光通量法等對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。但這些校準(zhǔn)方法在不同程度上存在一些問題。且如果系統(tǒng)的校準(zhǔn)狀態(tài)與實(shí)際的測(cè)量狀態(tài)不一致，即未經(jīng)過反光鏡或未經(jīng)過系統(tǒng)所使用的所有反光鏡(多面反光鏡系統(tǒng))，也會(huì)對(duì)系統(tǒng)的校準(zhǔn)帶來一定的誤差。

光強(qiáng)是基于遠(yuǎn)場(chǎng)照度測(cè)量而得到的量值。因此在分布光度測(cè)量系統(tǒng)中，探測(cè)器可按照J(rèn)JG 245—2005 《光照度計(jì)》檢定規(guī)程進(jìn)行計(jì)量校準(zhǔn)。即當(dāng)測(cè)試系統(tǒng)的幾何結(jié)構(gòu)、條件符合距離平方反比定律時(shí)，可以采用經(jīng)計(jì)量的照度探測(cè)器和精確測(cè)定的距離來獲得。檢定時(shí)，通常將光強(qiáng)標(biāo)準(zhǔn)燈和探測(cè)器至于光學(xué)導(dǎo)軌上，探測(cè)器與標(biāo)準(zhǔn)燈的燈絲平面之間的距離應(yīng)至少大于發(fā)光面或探測(cè)器的測(cè)試面的最大線度(燈絲平面、探測(cè)器測(cè)試面的對(duì)角線長(zhǎng)度或直徑)的15倍以上。使用此方法檢定完成后的探測(cè)器雖完成了校準(zhǔn)，但并不能直接用于分布光度計(jì)的測(cè)量。